In-Circuit-Test

Was ist ein In-Circuit-Test?

Der In-Circuit-Test (ICT) ist ein elektrischer Prüfschritt in der Elektronikfertigung. Dabei werden einzelne Bauteile und Netze (Leiterbahn-Verbindungen) auf einer bestückten Leiterplatte gezielt gemessen, um typische Fertigungsfehler zu finden. Vereinfacht gesagt: Statt die gesamte Baugruppe „als Ganzes“ zu testen, wird geprüft, ob die Grundbausteine und Verbindungen so vorhanden sind, wie sie laut Schaltplan sein sollen.

Ein anschaulicher Vergleich: Wie bei einer Gebäudekontrolle, bei der nicht nur geprüft wird, ob „das Licht angeht“, sondern ob jede Sicherung, jede Leitung und jeder Schalter richtig angeschlossen ist.

Wofür wird ein In-Circuit-Test eingesetzt?

ICT wird eingesetzt, um Fehler zu erkennen, die beim Bestücken und Löten entstehen können – bevor eine Baugruppe in ein Gerät eingebaut oder in einen Endtest gegeben wird. Typische Einsatzbereiche sind:

• Serienfertigung von Leiterplatten, wenn hohe Stückzahlen reproduzierbar geprüft werden sollen
• Qualitätssicherung nach SMT- und/oder THT-Bestückung
• Fehlersuche bei Auffälligkeiten in der Produktion (z. B. erhöhte Ausfallraten)
• Produkte mit hohen Zuverlässigkeitsanforderungen, bei denen frühe Fehlererkennung besonders wichtig ist

In der Praxis ergänzt ICT andere Prüfmethoden: Optische Prüfungen (z. B. AOI) finden sichtbare Löt- und Bestückungsfehler, während ICT elektrische Eigenschaften und Verbindungen messtechnisch absichert.

Wie funktioniert ein In-Circuit-Test in der Praxis?

Beim In-Circuit-Test wird die Leiterplatte in eine Prüfvorrichtung eingespannt. Über viele federnde Kontaktstifte (oft als „Nadelbett“ bezeichnet) werden definierte Messpunkte auf der Baugruppe kontaktiert. Das Testsystem misst anschließend – je nach Prüfkonzept – beispielsweise Widerstände, Kapazitäten, Diodenstrecken, Kurzschlüsse/Unterbrechungen und die korrekte Bestückung bestimmter Bauteile über ihre elektrischen Kennwerte.

Wichtige praktische Punkte, die Aufwand und Ergebnis beeinflussen:

• Testpunkte im Layout: Für einen stabilen ICT müssen ausreichend gut zugängliche Testpunkte vorgesehen sein. Das ist ein typisches Thema in der Designphase (Design for Testability).
• Prüfadapter (Fixture): Die mechanische Vorrichtung ist projektspezifisch. Sie kostet Zeit und Geld, lohnt sich aber besonders in der Serie durch schnelle Taktzeiten und stabile Kontaktierung.
• Grenzwerte und Testabdeckung: Die Messungen müssen sinnvoll parametriert sein (z. B. Toleranzen, Bauteilvarianten), damit echte Fehler gefunden werden, ohne unnötige Fehlalarme zu erzeugen.
• Dokumentation und Rückverfolgbarkeit: Testergebnisse lassen sich typischerweise pro Baugruppe speichern und für Qualitätsanalysen nutzen.

Warum ist ein In-Circuit-Test für Unternehmen relevant?

Der In-Circuit-Test wirkt sich direkt auf Qualität, Kosten und Termintreue aus – also auf Faktoren, die auch für Einkauf, Projektleitung und Geschäftsführung relevant sind:

• Qualität und Zuverlässigkeit: Elektrische Fehler wie Kurzschlüsse, Unterbrechungen oder falsche Bauteilwerte werden früh erkannt, bevor sie später im Endtest oder sogar im Feld auffallen.
• Kostenkontrolle: Früh erkannte Fehler sind meist günstiger zu beheben als spätere Reparaturen, Nacharbeiten in Endmontage oder Reklamationsfälle. Gleichzeitig sollte der Adapteraufwand zur Stückzahl passen.
• Time-to-Market: Ein sauber geplantes Testkonzept beschleunigt die Serienanläufe, weil Fehler systematisch und reproduzierbar gefunden werden – statt sie in späten Phasen „im Produkt“ zu suchen.
• Automatisierung und Digitalisierung: ICT ist gut automatisierbar. Messdaten ermöglichen Trendanalysen (z. B. driftende Prozesse) und unterstützen eine datenbasierte Prozesssteuerung in der Fertigung.

Wichtig ist die Einordnung: ICT prüft primär die korrekte Bestückung und elektrische Grundfunktion einzelner Netze und Bauteile. Für das Verhalten der Baugruppe „im Betrieb“ (z. B. Firmware, Schnittstellen, Lastverhalten) wird in der Regel zusätzlich ein Funktionstest benötigt.

Im Kontext von Prüfstrategie und Serienanlauf ist der In-Circuit-Test ein typischer Baustein innerhalb unserer Test- und Prüfprozesse in der Elektronikfertigung.